Como coautor
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Medición de la eficiencia técnica en procesos multi-recurso multi-producto a través de Máquinas de Soporte Vectorial MonoClase
R. Moragues, J. Aparicio Baeza, M. EsteveAnálisis Envolvente de Datos. Sesión en honor del Prof. Jesús T. Pastor Ciurana, Viernes 10 de noviembre, 12:00-14:00
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Evaluación de la eficiencia técnica mediante métodos boosting: algoritmos exactos y heurísticos
M. D. Guillén, J. Aparicio Baeza, M. EsteveAnálisis Envolvente de Datos. Sesión en honor del Prof. Jesús T. Pastor Ciurana, Viernes 10 de noviembre, 12:00-14:00
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Una nueva metodología basada en splines envolventes para la estimación de la eficiencia en el contexto de múltiples outputs
V. J. España Roch, J. Aparicio Baeza, J. X. Barber VallésAnálisis Envolvente de Datos. Sesión en honor del Prof. Jesús T. Pastor Ciurana, Viernes 10 de noviembre, 12:00-14:00
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Benchmarking in Data Envelopment Analysis: balanced efforts to achieve realistic targets
N. Ramon, H. P. Guevel, J. Aparicio BaezaAnálisis Envolvente de Datos. Sesión en honor del Prof. Jesús T. Pastor Ciurana, Viernes 10 de noviembre, 12:00-14:00